プログラム

1．高分子材料の分析技術の役割
　1.1 高分子材料の種類、用途展開
　1.2 材料開発における分析の目的について
　1.3 分析手法選択の重要性
　1.4 表面分析ニーズについて

2．表面分析手法各論
　2.1 表面分析手法の概要
　　2.1.1 各種分析手法の略称について
　　2.1.2 入射信号（プローブ）と検出信号について
　　2.1.3 分析機器の装置構成、複合化について
　　2.1.4 表面分析と化学分析
　2.2 電子顕微鏡関係の分析法
　　2.2.1 電子顕微鏡の概要
　　2.2.2 ＳＥＭ-ＥＤＳの原理、特徴
　　2.2.3 ＴＥＭ-ＥＤＳ、ＳＴＥＭ-ＥＤＳの原理、特徴
　　2.2.4 ＥＰＭＡの原理、特徴
　　2.2.5 ＳＥＭ－ＥＤＳ、ＥＰＭＡ、ＴＥＭ-ＥＤＳの比較
　2.3 表面組成分析法（1）ナノオーダーの極表面の分析手法
　　2.3.1 ＥＳＣＡの原理、特徴
　　　2.3.1.1 ＥＳＣＡの原理、特徴
　　　2.3.1.2 ＥＳＣＡで何が分かるか：４つの測定モード
　　　2.3.1.3 化学修飾による官能基定量
　　　2.3.1.4 Ｘ線ダメージ等、分析上の注意点
　　2.3.2 ＴＯＦ－ＳＩＭＳの原理、特徴
　　　2.3.2.1 ＴＯＦ－ＳＩＭＳの原理、特徴
　　　2.3.2.2 ＴＯＦ－ＳＩＭＳで何がわかるか：２つの測定モード
　　　2.3.2.3 類似分析法との比較
　　　2.3.2.4 サンプル取扱い上の注意点
　2.4 表面組成分析法（2）表面近傍、局所の分析手法
　　2.4.1 ＩＲによる表面、微小部分析
　　　2.4.1.1 ＩＲの原理、特徴
　　　2.4.1.2 ＩＲで何がわかるか：測定モードの紹介
　　　2.4.1.3 測定、解析上の注意点
　　2.4.2 Ｒａｍａｎによる表面、微小部分析
　　　2.4.2.1 Ｒａｍａｎの原理、特徴
　　　2.4.2.2 Ｒａｍａｎで何がわかるか：測定モードの紹介
　　　2.4.2.3 ＩＲとの比較：メリット・デメリット
　　2.4.3 局所分析手法の進展、nano-ＩＲ、ＡＦＭ-Ｒａｍａｎ
　　　2.4.3.1 微小部の分析手法概要
　　　2.4.3.2 nano-ＩＲについて
　　　2.4.3.3 ＡＦＭ-Ｒａｍａｎについて
　　　2.4.3.4　ＦＩＢ－ＴＯＦ－ＳＩＭＳ等、その他分析手法
　2.5 深さ方向組成分析方法
　　2.5.1 深さ方向分析の重要性
　　2.5.2 深さ方向分析のための分析手法
　　2.5.3 ＥＳＣＡ、ＴＯＦ－ＳＩＭＳによる深さ方向分析
　　2.5.4 その他の深さ方向組成分析手法
　2.6 分析手法選択のポイント
　　2.6.1 得られる情報
　　2.6.2 空間分解能と分析深さ
　　2.6.3 感度及び定量性
　2.7 サンプル前処理/加工方法
　　2.7.1　断面、切片作製法：ミクロトーム、イオンミリング、ＦＩＢ
　　2.7.2　保護膜形成、導電化処理：金属コート、カーボンコート
　　2.7.3　その他：樹脂包埋
　2.8 その他の分析手法
　　2.8.1　表面形状測定法：レーザー顕微鏡、白色干渉計、ＡＦＭ
　　2.8.2　内部構造観察：３Ｄ-ＴＥＭ、３Ｄ-ＳＥＭ、Ｘ線ＣＴ

3．高分子材料における分析活用事例
　3.1 面内組成分布状態分析事例
　3.2 深さ方向組成分布状態分析事例
　3.3 異物・欠陥分析事例

4．まとめ

5．参考資料